產(chǎn)品型號：HCCT-40H

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HCCT-40H陶瓷 / 薄膜電容溫度特性測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCCT-40H陶瓷 / 薄膜電容溫度特性測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，系統(tǒng)通過準確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1、至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數(shù)，至多64個通道。

2、圖形功能允許實時查看測量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進行實時審查。

3、可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相結(jié)合。

產(chǎn)品參數(shù)

通道配置：8通道（標準）；至多64通道

測量方法：交流四端對

直流偏壓：0~±40V

溫度測量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成

頻率步長：201步（范圍可定制）

補償：短時補償，開放補償