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批量樣品檢測周期太長?多通道介電電阻測試模塊準(zhǔn)確賦能

日期:2026-06-02瀏覽:71次

還在受困于傳統(tǒng)單通道介電電阻測試:人工輪番換樣耗時漫長、通道串?dāng)_導(dǎo)致數(shù)據(jù)漂移、批量試驗周期翻倍? 華測儀器 HCMP 多通道介電電阻測試模塊,一站式解決測試痛點,成為科研與產(chǎn)線批量測試優(yōu)選方案。

通用兼容阻抗分析儀、高阻計、LCR表等主機,無需更換原有測試設(shè)備,低成本進行多路測試能力。搭載高速光耦繼電器,通道切換低至1ms,告別傳統(tǒng)機械開關(guān)遲滯卡頓;標(biāo)配 10 路單獨通道,全通道電氣隔離架構(gòu),從硬件根源上防止通道間電磁串?dāng)_、漏流干擾,通道誤差嚴控、數(shù)據(jù)重復(fù)性優(yōu)異。

配套自研 Huace Pro 智能測控軟件,全自動多通道循環(huán)掃描,批量試樣不間斷連續(xù)測試,測試周期大幅減少。 各通道可單獨自定義測試頻率、測試量程,一鍵全通道開短路補償,減少引線寄生參數(shù)誤差;軟件自動采集、歸檔全量數(shù)據(jù),支持多組數(shù)據(jù)一鍵對比分析,意外斷電數(shù)據(jù)自動留存不丟失。

支持按需定制通道數(shù)量,靈活適配實驗室研發(fā)、產(chǎn)線抽檢差異化需求,普遍適用于新材料科研、新能源、半導(dǎo)體元器件、絕緣電子制造、功能陶瓷等領(lǐng)域,賦能介電常數(shù)、損耗因子、絕緣電阻批量檢測。

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