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皮安至毫安全覆蓋,多功能電流矩陣測(cè)試系統(tǒng)

日期:2026-04-29瀏覽:142次

  半導(dǎo)體研發(fā)、新材料表征、產(chǎn)線(xiàn)批量質(zhì)檢、微弱電流測(cè)試場(chǎng)景中,你是否長(zhǎng)期受到通道數(shù)量不足、測(cè)試速率緩慢、測(cè)量精度漂移、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性差等痛點(diǎn)困擾?
 
  針對(duì)半導(dǎo)體、功能材料、工業(yè)化量產(chǎn)批量測(cè)試的關(guān)鍵難題,華測(cè)儀器 HC-PAX 多通道電流矩陣模塊,一站式解決多通道微弱信號(hào)測(cè)試瓶頸。
 
  設(shè)備單機(jī)箱標(biāo)配8~128 通道,支持多機(jī)箱級(jí)聯(lián)擴(kuò)展,可拓展至1024 通道,適配小批量科研實(shí)驗(yàn)與大規(guī)模產(chǎn)線(xiàn)并行測(cè)試需求;測(cè)量電流量程覆蓋 ±1 pA~±100 mA,全域兼顧微弱電流與中電流測(cè)試,滿(mǎn)足高阻材料絕緣漏電、半導(dǎo)體元器件、電子器件的電學(xué)表征需求。
 
  硬件搭載電路設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn) <1 μV 低熱電動(dòng)勢(shì)、<1 fA 低漏電流,搭配電磁屏障優(yōu)化結(jié)構(gòu)與低串?dāng)_布線(xiàn)工藝,規(guī)避信號(hào)干擾,保障微弱電流測(cè)量準(zhǔn)確度、長(zhǎng)期穩(wěn)定性與優(yōu)異的數(shù)據(jù)重復(fù)性。
 
  搭載20 ms 高速通道切換能力,支持動(dòng)態(tài)負(fù)載自適應(yīng)切換與高速連續(xù)掃描測(cè)試,大幅優(yōu)化批量測(cè)試效率,縮短研發(fā)迭代與產(chǎn)線(xiàn)檢測(cè)周期;采用模塊化集成架構(gòu),通道卡支持熱插拔設(shè)計(jì),可根據(jù)實(shí)驗(yàn)、量產(chǎn)需求靈活增減配置,拓展靈活、維護(hù)便捷,無(wú)縫適配實(shí)驗(yàn)室科研開(kāi)發(fā)與工業(yè)量產(chǎn)質(zhì)檢雙場(chǎng)景。
 
  設(shè)備兼容性強(qiáng),可對(duì)接靜電計(jì)、數(shù)字源表等測(cè)試儀器,輕松將單臺(tái)傳統(tǒng)儀表升級(jí)為多通道自動(dòng)化集成測(cè)試平臺(tái),降本增效。普遍適用于半導(dǎo)體分立器件、薄膜 / 陶瓷高阻功能材料、各類(lèi)傳感器、無(wú)源元器件等領(lǐng)域的批量檢測(cè)與科學(xué)研究,是材料科研、半導(dǎo)體行業(yè)量產(chǎn)測(cè)試的理想測(cè)試配套方案。
 
  華測(cè)儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺(tái)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)到整體實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè)的全過(guò)程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,華測(cè)儀器可提供從方案設(shè)計(jì)到交付驗(yàn)收的完整服務(wù)。

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